Electronic properties of deep defects in ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Electronic properties of deep defects in n-type GaN
Auteur(s) :
Muret, P. [Auteur]
Ulzhöfer, C. [Auteur]
Pernot, J. [Auteur]
Cordier, Y. [Auteur]
Semond, F. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Ulzhöfer, C. [Auteur]
Pernot, J. [Auteur]
Cordier, Y. [Auteur]
Semond, F. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Titre de la revue :
Superlattices and Microstructures
Pagination :
435-443
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2004
ISSN :
0749-6036
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :