Reliability investigation of gallium nitride ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Reliability investigation of gallium nitride HEMT microelectronics reliability
Auteur(s) :
Sozza, A. [Auteur]
Dua, C. [Auteur]
Morvan, E. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]
Delage, S.L. [Auteur]
Chaturvedi, N. [Auteur]
Lossy, R. [Auteur]
Wuerfl, J. [Auteur]
Dua, C. [Auteur]
Morvan, E. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]
Delage, S.L. [Auteur]
Chaturvedi, N. [Auteur]
Lossy, R. [Auteur]
Wuerfl, J. [Auteur]
Titre de la revue :
Microelectronics Reliability
Pagination :
1369-1373
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2004
ISSN :
0026-2714
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :