Predictive modelling of the fatigue ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Predictive modelling of the fatigue phenomenon for polycristalline structural layers
Author(s) :
Millet, O. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bertrand, Pierre [Auteur]
Legrand, Bernard [Auteur]
Collard, D. [Auteur]
Buchaillot, Lionel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bertrand, Pierre [Auteur]
Legrand, Bernard [Auteur]
Collard, D. [Auteur]
Buchaillot, Lionel [Auteur]
Start date of the conference :
2004
Book title :
Proceedings of the 17th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems, MEMS 2004
Publisher :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Publication date :
2004
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :