Elaboration et caractérisation de transistors ...
Type de document :
Partie d'ouvrage
Titre :
Elaboration et caractérisation de transistors MOS Schottky en régime nanométrique
Auteur(s) :
Larrieu, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Date de publication :
2004
Langue :
Français
Audience :
Non spécifiée
Source :