Caractérisation de films d'alcènes greffés ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Caractérisation de films d'alcènes greffés sur des surfaces Si(111) par analyse XPS résolue angulairement
Author(s) :
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Henry de Villeneuve, C. [Auteur]
Allongue, P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Henry de Villeneuve, C. [Auteur]
Allongue, P. [Auteur]
Start date of the conference :
2004
Book title :
Actes de la Première Conférence Francophone sur les Spectroscopies d'Electrons, ELSPEC'2004
Publisher :
Société Française du Vide, Paris, France
Publication date :
2004
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :