Caractérisation de films d'alcènes greffés ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Caractérisation de films d'alcènes greffés sur des surfaces Si(111) par analyse XPS résolue angulairement
Auteur(s) :
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Henry de Villeneuve, C. [Auteur]
Allongue, P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Henry de Villeneuve, C. [Auteur]
Allongue, P. [Auteur]
Date de début de la manifestation scientifique :
2004
Titre de l’ouvrage :
Actes de la Première Conférence Francophone sur les Spectroscopies d'Electrons, ELSPEC'2004
Éditeur :
Société Française du Vide, Paris, France
Date de publication :
2004
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :