One-dimensional reconstruction of a defect ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
One-dimensional reconstruction of a defect profile based on millimeter-wave nondestructive techniques
Author(s) :
Maazi, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Glay, David [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Glay, David [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Journal title :
MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS
Pages :
133-138
Publisher :
Wiley
Publication date :
2004
ISSN :
0895-2477
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :