Titre :

Nonlinear effects in T-branch junctions

Auteur(s) :

Mateos, J. [Auteur]
Vasallo, B.G. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gonzales, T. [Auteur]
Pichonat, Emmanuelle [Auteur]
Galloo, J.S. [Auteur]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roelens, Yannick [Auteur]
Cappy, Alain [Auteur]

Titre de la revue :

IEEE Electron Device Letters

Pagination :

235-237

Éditeur :

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Date de publication :

2004

ISSN :

0741-3106

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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