Strong oscillations detected by picosecond ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Strong oscillations detected by picosecond ultrasonics in silicon : evidence for an electronic structure effect
Author(s) :
Devos, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cote, R. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cote, R. [Auteur]
Journal title :
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015)
Pages :
125208-1-6
Publisher :
American Physical Society
Publication date :
2004
ISSN :
1098-0121
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :