Large signal microwave characterization ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Large signal microwave characterization of GaN HEMTs
Auteur(s) :
Théron, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Werquin, M. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Ducatteau, D. [Auteur]
Vandenbrouck, S. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Werquin, M. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Ducatteau, D. [Auteur]
Vandenbrouck, S. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
Workshop on Compound Semiconductor Materials and Devices, WOCSEMMAD'06
Ville :
Phoenix, AZ
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2006
Date de publication :
2006
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :