A Monte Carlo investigation of the RF ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
A Monte Carlo investigation of the RF performance of partially-depleted SOI MOSFETs
Auteur(s) :
Rengel, R. [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Titre de la revue :
Semiconductor Science and Technology
Pagination :
273-278
Éditeur :
IOP Publishing
Date de publication :
2006
ISSN :
0268-1242
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :