A microscopic interpretation of the RF ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
A microscopic interpretation of the RF noise performance of fabricated FDSOI MOSFETs
Author(s) :
Rengel, R. [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Gonzalez, T. [Auteur]
Mateos, J. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Raskin, J.P. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Gonzalez, T. [Auteur]
Mateos, J. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Raskin, J.P. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Journal title :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pages :
523-532
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2006
ISSN :
0018-9383
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :