A 2000 hours storage test on AlGaN/GaN ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
A 2000 hours storage test on AlGaN/GaN HEMTs for RF and microwave applications
Author(s) :
Sozza, A. [Auteur]
Dua, C. [Auteur]
Morvan, E. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delage, S.L. [Auteur]
Zanoni, E. [Auteur]
Dua, C. [Auteur]
Morvan, E. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delage, S.L. [Auteur]
Zanoni, E. [Auteur]
Conference title :
29th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2005
City :
Cardiff
Country :
Royaume-Uni
Start date of the conference :
2005
Publication date :
2005
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :