Physical study of the avalanche breakdown ...

Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Physical study of the avalanche breakdown phenomenon in HEMTs
Author(s) :
Elkhou, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Rousseau, Michel [Auteur]
Gerard, H. [Auteur]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur] refId
Journal title :
Solid-State Electronics
Pages :
535-544
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2005
ISSN :
0038-1101
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL