Truly quantitative XPS characterization ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Truly quantitative XPS characterization of organic monolayers on silicon : study of alkyl and alkoxy monolayers on H-Si(111)
Author(s) :
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Henry de Villeneuve, C. [Auteur]
Allongue, P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Henry de Villeneuve, C. [Auteur]
Allongue, P. [Auteur]
Journal title :
JOURNAL OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY
Pages :
7871
Publisher :
American Chemical Society
Publication date :
2005
ISSN :
0002-7863
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :