High frequency noise of SOI MOSFETs : ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
High frequency noise of SOI MOSFETs : performances and limitations
Author(s) :
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Siligaris, A. [Auteur]
Iniguez, B. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Conference title :
SPIE Fluctuations and Noise Conference, Noise in Devices and Circuits III
City :
Austin, TX
Country :
Etats-Unis d'Amérique
Start date of the conference :
2005
Publication date :
2005
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL