Microwave and noise performance of SiGe ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Microwave and noise performance of SiGe BiCMOS HBT under cryogenic temperatures
Auteur(s) :
Pruvost, S. [Auteur]
Delcourt, S. [Auteur]
Telliez, I. [Auteur]
Laurens, M. [Auteur]
BOURZGUI, Nour-Eddine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Monroy, A. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Delcourt, S. [Auteur]
Telliez, I. [Auteur]
Laurens, M. [Auteur]
BOURZGUI, Nour-Eddine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Monroy, A. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Titre de la revue :
IEEE Electron Device Letters
Pagination :
105-108
Éditeur :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Date de publication :
2005
ISSN :
0741-3106
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :