Refractive index, sound velocity and ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Refractive index, sound velocity and thickness of thin transparent films from multiple angles picosecond ultrasonics
Author(s) :
Cote, R. [Auteur]
Devos, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Devos, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Review of Scientific Instruments
Pages :
053906
Publisher :
American Institute of Physics
Publication date :
2005
ISSN :
0034-6748
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :