Refractive index, sound velocity and ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Refractive index, sound velocity and thickness of thin transparent films from multiple angles picosecond ultrasonics
Auteur(s) :
Cote, R. [Auteur]
Devos, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Devos, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Review of Scientific Instruments
Pagination :
053906
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2005
ISSN :
0034-6748
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :