Residual stress relaxation in GaN/Sapphire ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Residual stress relaxation in GaN/Sapphire circular pillars measured by Raman scattering spectroscopy
Auteur(s) :
Margueron, S.H. [Auteur]
Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes [LMOPS]
Bourson, P. [Auteur]
Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes [LMOPS]
Gautier, S. [Auteur]
Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes [LMOPS]
Soltani, Ali [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Puissance - IEMN [PUISSANCE - IEMN]
Troadec, david [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Puissance - IEMN [PUISSANCE - IEMN]
Sirenko, A.A. [Auteur]
Ougazzaden, A. [Auteur]
Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes [LMOPS]
Bourson, P. [Auteur]
Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes [LMOPS]
Gautier, S. [Auteur]
Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes [LMOPS]
Soltani, Ali [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Puissance - IEMN [PUISSANCE - IEMN]
Troadec, david [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Puissance - IEMN [PUISSANCE - IEMN]
Sirenko, A.A. [Auteur]
Ougazzaden, A. [Auteur]
Titre de la revue :
Journal of Crystal Growth
Pagination :
5321-5326
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2008-12-01
ISSN :
0022-0248
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]/Physique [physics]/Optique [physics.optics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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