Analysis of microwave detection with GaN ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Analysis of microwave detection with GaN HEMTs under RF probes
Auteur(s) :
Sanchez-Martin, Hector [Auteur]
Universidad de Salamanca
Pérez-Martín, Ester [Auteur]
Altuntas, Philippe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Rennesson, Stéphane [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Cordier, Yvon [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Novoa, J.A. [Auteur]
Pérez, Susana [Auteur]
González, Tomás [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Mateos, Javier [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Íñiguez-De-La-Torre, Ignacio [Auteur]
Universidad de Salamanca
Universidad de Salamanca
Pérez-Martín, Ester [Auteur]
Altuntas, Philippe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Rennesson, Stéphane [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Cordier, Yvon [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Novoa, J.A. [Auteur]
Pérez, Susana [Auteur]
González, Tomás [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Mateos, Javier [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Íñiguez-De-La-Torre, Ignacio [Auteur]
Universidad de Salamanca
Titre de la manifestation scientifique :
Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2018
Ville :
Bucharest
Pays :
Roumanie
Date de début de la manifestation scientifique :
2018-05-14
Date de publication :
2018
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :