Polarimetric distance-dependent models for ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Polarimetric distance-dependent models for large hall scenarios
Author(s) :
Cheng, Shiqi [Auteur]
Gaillot, Davy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Télécommunication, Interférences et Compatibilité Electromagnétique - IEMN [TELICE - IEMN]
Tanghe, Emmeric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laly, Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Demol, Thierry [Auteur]
Joseph, Wout [Auteur]
Martens, Luc [Auteur]
Lienard, Martine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gaillot, Davy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Télécommunication, Interférences et Compatibilité Electromagnétique - IEMN [TELICE - IEMN]
Tanghe, Emmeric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laly, Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Demol, Thierry [Auteur]
Joseph, Wout [Auteur]
Martens, Luc [Auteur]
Lienard, Martine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
IEEE Transactions on Antennas and Propagation
Pages :
1907-1917
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2016
ISSN :
0018-926X
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :
Files
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