High resolution nc-AFM and KPFM imaging ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
High resolution nc-AFM and KPFM imaging of dipolar molecule assemblies on Si(111):B by stiff- probe non-contact AFM at low-temperature
Auteur(s) :
Turek, Natalia [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Godey, Sylvie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Krzeminski, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Jeannoutot, Judicaël [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Makoudi, Younes [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Palmino, Frank [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Cherioux, Frédéric [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Godey, Sylvie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Krzeminski, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Jeannoutot, Judicaël [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Makoudi, Younes [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Palmino, Frank [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Cherioux, Frédéric [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
Materials Research Society meeting
Ville :
Boston
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2021-11-29
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Acoustique [physics.class-ph]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Matériaux
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Sciences de l'ingénieur [physics]/Matériaux
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Résumé en anglais : [en]
We studied by non-contact AFM (nc-AFM) the formation of molecular self-assemblies on the passivated surface of boron-doped Silicon B-Si(111)-(√3×√3)R30. The investigated molecules (1-(4’cyanophenyl)-2,5-bis(decyloxy)-4-( ...
Lire la suite >We studied by non-contact AFM (nc-AFM) the formation of molecular self-assemblies on the passivated surface of boron-doped Silicon B-Si(111)-(√3×√3)R30. The investigated molecules (1-(4’cyanophenyl)-2,5-bis(decyloxy)-4-(4’-iodophenyl)benzene) possess aliphatic chains attached to a triphenyl core ended with two possible different terminations (either iodine or cyano group). The use of a passivated semiconductor substrate enables creating regular and extended structures without significant change in electronic properties of molecules [1]. Scanning tunneling microscopy and nc-AFM imaging have been performed using a low-temperature (AFM/STM (JT AFM/STM,SPECS) operated at T=4K with high stiffness Kolibri sensors (k=540 kN/m, f0=1 MHz). The growth of a periodic molecular network is observed, formed by parallel lines made by molecule aromatic cores and interdigitated aliphatic chains placed between adjacent rows. We obtain submolecular resolution in the constant height ∆f images without intentional tip functionalization, but only by conditioning the tip on the Si surface [2]. Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) images of single molecules and molecular assemblies with sub-elementary charge sensitivity [3] and submolecular resolution will be shown. They attest of the dipolar character of asymmetric molecules and are consistent with the formation of dipole-driven molecular arrays.Lire moins >
Lire la suite >We studied by non-contact AFM (nc-AFM) the formation of molecular self-assemblies on the passivated surface of boron-doped Silicon B-Si(111)-(√3×√3)R30. The investigated molecules (1-(4’cyanophenyl)-2,5-bis(decyloxy)-4-(4’-iodophenyl)benzene) possess aliphatic chains attached to a triphenyl core ended with two possible different terminations (either iodine or cyano group). The use of a passivated semiconductor substrate enables creating regular and extended structures without significant change in electronic properties of molecules [1]. Scanning tunneling microscopy and nc-AFM imaging have been performed using a low-temperature (AFM/STM (JT AFM/STM,SPECS) operated at T=4K with high stiffness Kolibri sensors (k=540 kN/m, f0=1 MHz). The growth of a periodic molecular network is observed, formed by parallel lines made by molecule aromatic cores and interdigitated aliphatic chains placed between adjacent rows. We obtain submolecular resolution in the constant height ∆f images without intentional tip functionalization, but only by conditioning the tip on the Si surface [2]. Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) images of single molecules and molecular assemblies with sub-elementary charge sensitivity [3] and submolecular resolution will be shown. They attest of the dipolar character of asymmetric molecules and are consistent with the formation of dipole-driven molecular arrays.Lire moins >
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Commentaire :
Oral, sans d'actes
Source :