Beyond the Dynamic range approach In noise ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Beyond the Dynamic range approach In noise evaluation for Terahertz Time domain spectrometers
Author(s) :
Muller, Clemence [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Lavancier, Melanie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Bichon, Jeyan [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Hannotte, Theo [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Lampin, Jean-Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Eliet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Peretti, Romain [Auteur correspondant]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Lavancier, Melanie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Bichon, Jeyan [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Hannotte, Theo [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Lampin, Jean-Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Eliet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Peretti, Romain [Auteur correspondant]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Conference title :
2021 46th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
City :
Chengdu
Country :
Chine
Start date of the conference :
2021-08-29
Book title :
Proceedings of the 46th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
Journal title :
Proceedings of the 46th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
Publisher :
IEEE
English keyword(s) :
statistics
terahertz spectroscopy
terahertz spectroscopy
HAL domain(s) :
Physique [physics]/Physique [physics]/Biophysique [physics.bio-ph]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Optique / photonique
Physique [physics]/Physique [physics]/Optique [physics.optics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Optique / photonique
Physique [physics]/Physique [physics]/Optique [physics.optics]
English abstract : [en]
THz-TDS is used for a myriad of purposes. Still today, the usual way to compare different system in terms of signal to noise ratio is to look at the dynamic range. We propose here a more reliable method based on statistics ...
Show more >THz-TDS is used for a myriad of purposes. Still today, the usual way to compare different system in terms of signal to noise ratio is to look at the dynamic range. We propose here a more reliable method based on statistics and will show results on two systems (Toptica and Menlo).Show less >
Show more >THz-TDS is used for a myriad of purposes. Still today, the usual way to compare different system in terms of signal to noise ratio is to look at the dynamic range. We propose here a more reliable method based on statistics and will show results on two systems (Toptica and Menlo).Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :
Files
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