Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT
Author(s) :
Younes, R. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wichmann, Nicolas [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Lepilliet, sl [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Conference title :
XXIIèmes Journées Nationales Microondes
City :
Limoges
Country :
France
Start date of the conference :
2022-06-07
Book title :
Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
French abstract :
Nous proposons le développement de kits d’étalonnage on-wafer de type multiline Thru-ReflectLine pour mesurer des transistors à des fréquences au-delà de 110 GHz. L’objectif final est la mesure jusque 1,1THz de paramètres ...
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Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Nationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL