Dynamic hysteresis and scaling behavior ...

Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
10.1016/j.tsf.2015.01.033
Title :
Dynamic hysteresis and scaling behavior in epitaxial antiferroelectric film
Author(s) :
Jun, Ge [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Shanghai Institute of Ceramics
Chen, Ying [Auteur]
Shanghai Institute of Ceramics
Dong, Xian-Lin [Auteur]
Shanghai Institute of Ceramics
Remiens, Denis [Auteur] refId
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Guo, Xin [Auteur]
Shanghai Institute of Ceramics
Cao, Fei [Auteur]
Shanghai Institute of Ceramics
Wang, Gen-Shui [Auteur]
Shanghai Institute of Ceramics
Journal title :
Thin Solid Films
Pages :
108-111
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2015-06-01
ISSN :
0040-6090
English keyword(s) :
Dynamic hysteresis
Scaling behavior
Antiferroelectric film
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
In this study, we investigated the scaling behavior of dynamic hysteresis with frequency f and electric field E in epitaxial PbZrO3 antiferroelectric film on (111)-oriented SrTiO3 substrate. The scaling relation for the ...
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Language :
Anglais
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
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