Elaboration and high resolution TEM ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1016/j.mee.2013.01.025
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/8224
Title :
Elaboration and high resolution TEM characterization of SnO2 nanowires
Author(s) :
Daltin, Anne-Lise [Auteur]
Addad, Ahmed [Auteur] refId
Chopart, Jean-Paul [Auteur]
Journal title :
Microelectronic Engineering
Volume number :
108
Pages :
204-208
Publication date :
2013
Language :
Anglais
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Administrative institution(s) :
Université de Lille
ENSCL
CNRS
INRA
Collections :
Submission date :
2019-05-16T15:31:32Z