Node-screening tests for the L0-penalized ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Node-screening tests for the L0-penalized least-squares problem
Author(s) :
Guyard, Théo [Auteur]
SIMulation pARTiculaire de Modèles Stochastiques [SIMSMART]
Inria Rennes – Bretagne Atlantique
Institut National des Sciences Appliquées - Rennes [INSA Rennes]
Herzet, Cédric [Auteur]
Inria Rennes – Bretagne Atlantique
Elvira, Clément [Auteur]
Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]
SIMulation pARTiculaire de Modèles Stochastiques [SIMSMART]
Inria Rennes – Bretagne Atlantique
Institut National des Sciences Appliquées - Rennes [INSA Rennes]
Herzet, Cédric [Auteur]
Inria Rennes – Bretagne Atlantique
Elvira, Clément [Auteur]
Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]
Conference title :
Journée SMAI MODE 2022
City :
Limoges
Country :
France
Start date of the conference :
2022-05-30
English keyword(s) :
Sparse approximation
Mixed-integer Programming
Branch and Bound
Safe screening
Mixed-integer Programming
Branch and Bound
Safe screening
HAL domain(s) :
Mathématiques [math]/Optimisation et contrôle [math.OC]
Informatique [cs]/Apprentissage [cs.LG]
Statistiques [stat]/Machine Learning [stat.ML]
Informatique [cs]/Apprentissage [cs.LG]
Statistiques [stat]/Machine Learning [stat.ML]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
ANR Project :
Collections :
Source :
Files
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