Node-screening tests for the L0-penalized ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Node-screening tests for the L0-penalized least-squares problem
Auteur(s) :
Guyard, Théo [Auteur]
SIMulation pARTiculaire de Modèles Stochastiques [SIMSMART]
Inria Rennes – Bretagne Atlantique
Institut National des Sciences Appliquées - Rennes [INSA Rennes]
Herzet, Cédric [Auteur]
Inria Rennes – Bretagne Atlantique
Elvira, Clément [Auteur]
Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]
SIMulation pARTiculaire de Modèles Stochastiques [SIMSMART]
Inria Rennes – Bretagne Atlantique
Institut National des Sciences Appliquées - Rennes [INSA Rennes]
Herzet, Cédric [Auteur]
Inria Rennes – Bretagne Atlantique
Elvira, Clément [Auteur]
Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]
Titre de la manifestation scientifique :
Journée SMAI MODE 2022
Ville :
Limoges
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2022-05-30
Mot(s)-clé(s) en anglais :
Sparse approximation
Mixed-integer Programming
Branch and Bound
Safe screening
Mixed-integer Programming
Branch and Bound
Safe screening
Discipline(s) HAL :
Mathématiques [math]/Optimisation et contrôle [math.OC]
Informatique [cs]/Apprentissage [cs.LG]
Statistiques [stat]/Machine Learning [stat.ML]
Informatique [cs]/Apprentissage [cs.LG]
Statistiques [stat]/Machine Learning [stat.ML]
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Projet ANR :
Collections :
Source :
Fichiers
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