Title :

Mapping titanium and tin oxide phases using EELS: An application of independent component analysis

Author(s) :

de la Peña, Francisco [Auteur]
Berger, M.-H. [Auteur]
Hochepied, J.-F. [Auteur]
Dynys, F. [Auteur]
Stéphan, Odile [Auteur]
Walls, Michael [Auteur]

Journal title :

Ultramicroscopy

Volume number :

111

Pages :

169-176

Publication date :

2011

HAL domain(s) :

Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]

Language :

Anglais

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Administrative institution(s) :

Université de Lille
CNRS
ENSCL
INRA

Collections :

• Unité Matériaux et Transformations (UMET) - UMR 8207

Research team(s) :

Matériaux Terrestres et Planétaires

Submission date :

2019-05-17T09:11:18Z