Title :

Full field chemical imaging of buried native sub-oxide layers on doped silicon patterns

Author(s) :

de la Peña, Francisco [Auteur]
Barrett, N. [Auteur]
Zagonel, L.F. [Auteur]
Walls, Michael [Auteur]
Renault, O. [Auteur]

Journal title :

Surface Science

Volume number :

604

Pages :

1628-1636

Publication date :

2010

HAL domain(s) :

Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]

Language :

Anglais

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Administrative institution(s) :

Université de Lille
CNRS
ENSCL
INRA

Collections :

• Unité Matériaux et Transformations (UMET) - UMR 8207

Research team(s) :

Matériaux Terrestres et Planétaires

Submission date :

2019-05-17T09:11:20Z
2024-02-06T09:32:20Z