Thickness effects on physical and electrical ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Thickness effects on physical and electrical properties of Zn0.97Co0.02In0.01O thin films grown by magnetron sputtering RF
Author(s) :
Slimi, H. [Auteur]
Unité de recherches en bioclimatologie
Barhoumi, A. [Auteur]
Waldhoff, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Poupin, Christophe [Auteur]
SFR Condorcet
Unité de Chimie Environnementale et Interactions sur le Vivant [UCEIV]
Leroy, G. [Auteur]
Unité de Dynamique et Structure des Matériaux Moléculaires [UDSMM]
Guermazi, S. [Auteur]
Université de Sfax - University of Sfax
Cousin, Renaud [Auteur]
SFR Condorcet
Unité de Chimie Environnementale et Interactions sur le Vivant [UCEIV]
Duponchel, Benoit [Auteur]
Unité de Dynamique et Structure des Matériaux Moléculaires [UDSMM]
Unité de recherches en bioclimatologie
Barhoumi, A. [Auteur]
Waldhoff, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Poupin, Christophe [Auteur]
SFR Condorcet
Unité de Chimie Environnementale et Interactions sur le Vivant [UCEIV]
Leroy, G. [Auteur]
Unité de Dynamique et Structure des Matériaux Moléculaires [UDSMM]
Guermazi, S. [Auteur]
Université de Sfax - University of Sfax
Cousin, Renaud [Auteur]
SFR Condorcet
Unité de Chimie Environnementale et Interactions sur le Vivant [UCEIV]
Duponchel, Benoit [Auteur]
Unité de Dynamique et Structure des Matériaux Moléculaires [UDSMM]
Journal title :
Superlattices and Microstructures
Pages :
670-689
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2018-08
ISSN :
0749-6036
English keyword(s) :
RF magnetron sputtering
Raman spectroscopy
Optical constants
Resistivity electrical
Factor of merit
Raman spectroscopy
Optical constants
Resistivity electrical
Factor of merit
HAL domain(s) :
Chimie
Chimie/Catalyse
Chimie/Catalyse
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :