Title :

Traps and Interface Fixed Charge Effects on a Solution-Processed n-Type Polymeric-Based Organic Field-Effect Transistor

Author(s) :

Hafsi, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN [NCM - IEMN]
Boubaker, A. [Auteur]
Guérin, David [Auteur]
Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN [NCM - IEMN]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN [NCM - IEMN]
Kalboussi, A. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN [NCM - IEMN]

Journal title :

Journal of Electronic Materials

Pages :

1128-1136

Publisher :

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Publication date :

2016-11-07

ISSN :

0361-5235

HAL domain(s) :

Physique [physics]

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL