Title :

Overcoming Traditional Challenges in Nano-scale X-ray Characterization Using Independent Component Analysis

Author(s) :

Rossouw, David [Auteur]
University of Cambridge [UK] [CAM]
Burdet, Pierre [Auteur]
University of Cambridge [UK] [CAM]
de la Peña, Francisco [Auteur]
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207 [UMET]
Ducati, Caterina [Auteur]
University of Cambridge [UK] [CAM]
Knappett, Benjamin R. [Auteur]
University of Cambridge [UK] [CAM]
Wheatley, Andrew E. H. [Auteur]
University of Cambridge [UK] [CAM]
Midgley, Paul A. [Auteur]
University of Cambridge [UK] [CAM]

Journal title :

Microscopy and Microanalysis

Abbreviated title :

Microsc Microanal

Volume number :

21

Pages :

1227-1228

Publisher :

Oxford University Press (OUP)

Publication date :

2015-08

ISSN :

1431-9276

HAL domain(s) :

Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre

Language :

Anglais

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Administrative institution(s) :

Université de Lille
CNRS
INRAE
ENSCL

Collections :

• Unité Matériaux et Transformations (UMET) - UMR 8207

Research team(s) :

Matériaux Terrestres et Planétaires

Submission date :

2024-02-01T14:10:27Z
2024-02-02T08:51:25Z