Extending the analysis of EELS spectrum-imaging ...
Type de document :
Article dans une revue scientifique
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Titre :
Extending the analysis of EELS spectrum-imaging data, from elemental to bond mapping in complex nanostructures
Auteur(s) :
Arenal, R. [Auteur]
Laboratoire d'étude des microstructures [Châtillon] [LEM - ONERA - CNRS]
de la Peña, Francisco [Auteur]
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207 [UMET]
Stéphan, O. [Auteur]
Laboratoire de Physique des Solides [LPS]
Walls, M. [Auteur]
Laboratoire de Physique des Solides [LPS]
Tencé, M. [Auteur]
Laboratoire de Physique des Solides [LPS]
Loiseau, A. [Auteur]
Laboratoire d'étude des microstructures [Châtillon] [LEM - ONERA - CNRS]
Colliex, C. [Auteur]
Laboratoire de Physique des Solides [LPS]
Laboratoire d'étude des microstructures [Châtillon] [LEM - ONERA - CNRS]
de la Peña, Francisco [Auteur]

Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207 [UMET]
Stéphan, O. [Auteur]
Laboratoire de Physique des Solides [LPS]
Walls, M. [Auteur]
Laboratoire de Physique des Solides [LPS]
Tencé, M. [Auteur]
Laboratoire de Physique des Solides [LPS]
Loiseau, A. [Auteur]
Laboratoire d'étude des microstructures [Châtillon] [LEM - ONERA - CNRS]
Colliex, C. [Auteur]
Laboratoire de Physique des Solides [LPS]
Titre de la revue :
Ultramicroscopy
Nom court de la revue :
Ultramicroscopy
Numéro :
109
Pagination :
32-38
Éditeur :
Elsevier BV
Date de publication :
2008-12
ISSN :
0304-3991
Discipline(s) HAL :
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Résumé en anglais : [en]
Multiple least squares fitting has been employed for long time in elemental electron energy-loss spectroscopy (EELS) analysis, in particular in biology, but with the hypothesis of a rather stable shape for the used core-loss ...
Lire la suite >Multiple least squares fitting has been employed for long time in elemental electron energy-loss spectroscopy (EELS) analysis, in particular in biology, but with the hypothesis of a rather stable shape for the used core-loss signals. In the present case, we explore its use for identifying the variations in the edges’ fine structures in complex boron nitride samples and in particular for mapping the bonding types of boron in such samples. Details about this improved procedure applied to data acquired in the spectrum-imaging mode are reported here.Lire moins >
Lire la suite >Multiple least squares fitting has been employed for long time in elemental electron energy-loss spectroscopy (EELS) analysis, in particular in biology, but with the hypothesis of a rather stable shape for the used core-loss signals. In the present case, we explore its use for identifying the variations in the edges’ fine structures in complex boron nitride samples and in particular for mapping the bonding types of boron in such samples. Details about this improved procedure applied to data acquired in the spectrum-imaging mode are reported here.Lire moins >
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Établissement(s) :
Université de Lille
CNRS
INRAE
ENSCL
CNRS
INRAE
ENSCL
Collections :
Équipe(s) de recherche :
Matériaux Terrestres et Planétaires
Date de dépôt :
2024-02-01T14:13:27Z
2024-02-02T10:25:21Z
2024-02-02T10:25:21Z