Titre :

Data Analysis Methods for Modern Analytical Electron Microscopy

Auteur(s) :

Walls, Michael [Auteur]
Université Paris-Sud - Paris 11 [UP11]
de la Peña, Francisco [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]

Titre de la revue :

Microscopy and Microanalysis

Nom court de la revue :

Microsc Microanal

Numéro :

17

Pagination :

802-803

Éditeur :

Oxford University Press (OUP)

Date de publication :

2011-07-01

ISSN :

1431-9276

Discipline(s) HAL :

Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre

Résumé en anglais : [en]

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2011 in Nashville, Tennessee, USA, August 7–August 11, 2011.Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2011 in Nashville, Tennessee, USA, August 7–August 11, 2011.Lire moins >

Langue :

Anglais

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Établissement(s) :

Université de Lille
CNRS
INRAE
ENSCL

Collections :

• Autres travaux scientifiques

Date de dépôt :

2024-02-01T14:18:45Z
2024-02-02T13:23:07Z