Quantitative Electron Diffraction for ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Conférence invitée
Permalink :
Title :
Quantitative Electron Diffraction for Microstructure Characterizations: from Convergent Beam to Precession
Author(s) :
Conference title :
International Microscopy Congress 17
City :
Rio de Janeiro
Country :
Brésil
Start date of the conference :
2010-09
HAL domain(s) :
Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Language :
Anglais
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Administrative institution(s) :
Université de Lille
ENSCL
INRA
CNRS
ENSCL
INRA
CNRS
Collections :
Research team(s) :
Matériaux Terrestres et Planétaires
Submission date :
2019-06-03T08:57:04Z