Title :

Quantitative Electron Diffraction for Microstructure Characterizations: from Convergent Beam to Precession

Author(s) :

Jacob, Damien [Auteur]
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207 [UMET]

Conference title :

International Microscopy Congress 17

City :

Rio de Janeiro

Country :

Brésil

Start date of the conference :

2010-09

HAL domain(s) :

Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]

Language :

Anglais

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Administrative institution(s) :

Université de Lille
ENSCL
INRA
CNRS

Collections :

• Unité Matériaux et Transformations (UMET) - UMR 8207

Research team(s) :

Matériaux Terrestres et Planétaires

Submission date :

2019-06-03T08:57:04Z