Quantitative Electron Diffraction for ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Conférence invitée
URL permanente :
Titre :
Quantitative Electron Diffraction for Microstructure Characterizations: from Convergent Beam to Precession
Auteur(s) :
Titre de la manifestation scientifique :
International Microscopy Congress 17
Ville :
Rio de Janeiro
Pays :
Brésil
Date de début de la manifestation scientifique :
2010-09
Discipline(s) HAL :
Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Établissement(s) :
Université de Lille
ENSCL
INRA
CNRS
ENSCL
INRA
CNRS
Collections :
Équipe(s) de recherche :
Matériaux Terrestres et Planétaires
Date de dépôt :
2019-06-03T08:57:04Z