Title :

Comparison of Impedance Matching Networks for Scanning Microwave Microscopy

Author(s) :

Hoffmann, Johannes [Auteur]
Swiss Federal Office of Metrology [METAS]
de Préville, Sophie [Auteur]
Swiss Federal Office of Metrology [METAS]
Eckmann, Bruno [Auteur]
Swiss Federal Office of Metrology [METAS]
Lin, Hung-Ju [Auteur]
Swiss Federal Office of Metrology [METAS]
Herzog, Benedikt [Auteur]
Haddadi, Kamel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN ]
Théron, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nano and Microsystems - IEMN [NAM6 - IEMN]
Gramse, Georg [Auteur]
Johannes Kepler Universität [JKU]
Richert, Damien [Auteur]
Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes] [LNE ]
Morán-Meza, José [Auteur]
Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes] [LNE ]
Piquemal, François [Auteur]
Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes] [LNE ]

Journal title :

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

Pages :

1-9

Publisher :

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Publication date :

2024

ISSN :

0018-9456

HAL domain(s) :

Physique [physics]

Language :

Anglais

Popular science :

Non

European Project :

Electrical nanoscale metrology in industry

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL