Heavily p-Type Doping of Bulk 6H-SiC and ...
Type de document :
Article dans une revue scientifique
URL permanente :
Titre :
Heavily p-Type Doping of Bulk 6H-SiC and 3C-SiC Grown from Al-Si Melts
Auteur(s) :
Mercier, Frédéric [Auteur]
Laboratoire des matériaux et du génie physique [LMGP ]
Galben-Sandulache, Irina G. [Auteur]
Laboratoire des matériaux et du génie physique [LMGP ]
Marinova, Maya [Auteur]
Department of Physics [Thessaloniki]
Zoulis, Georgios [Auteur]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Ouisse, Thierry [Auteur]
Laboratoire des matériaux et du génie physique [LMGP ]
Polychroniadis, Efstathios K. [Auteur]
Department of Physics [Thessaloniki]
Chaussende, Didier [Auteur]
Laboratoire des matériaux et du génie physique [LMGP ]
Laboratoire des matériaux et du génie physique [LMGP ]
Galben-Sandulache, Irina G. [Auteur]
Laboratoire des matériaux et du génie physique [LMGP ]
Marinova, Maya [Auteur]
Department of Physics [Thessaloniki]
Zoulis, Georgios [Auteur]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Ouisse, Thierry [Auteur]
Laboratoire des matériaux et du génie physique [LMGP ]
Polychroniadis, Efstathios K. [Auteur]
Department of Physics [Thessaloniki]
Chaussende, Didier [Auteur]
Laboratoire des matériaux et du génie physique [LMGP ]
Titre de la revue :
Materials Science Forum
Numéro :
645-648
Pagination :
59-62
Date de publication :
2010
ISSN :
1662-9752
Mot(s)-clé(s) en anglais :
Liquid Phase Epitaxy (LPE)
Raman Spectroscopy
TEM
Raman Spectroscopy
TEM
Discipline(s) HAL :
Chimie/Matériaux
Résumé en anglais : [en]
We report in this work, the solution growth of heavily p-type doped 3C-SiC and 6H-SiC. Description of the 3C and 6H-SiC crystals in terms of defects and resistivity are presented and discussed with respect to growth ...
Lire la suite >We report in this work, the solution growth of heavily p-type doped 3C-SiC and 6H-SiC. Description of the 3C and 6H-SiC crystals in terms of defects and resistivity are presented and discussed with respect to growth conditions such as temperature, Al content in the melt and seed polarity. Crystals and thick layers are investigated by means of TEM, NDIC microscopy and Raman.Lire moins >
Lire la suite >We report in this work, the solution growth of heavily p-type doped 3C-SiC and 6H-SiC. Description of the 3C and 6H-SiC crystals in terms of defects and resistivity are presented and discussed with respect to growth conditions such as temperature, Al content in the melt and seed polarity. Crystals and thick layers are investigated by means of TEM, NDIC microscopy and Raman.Lire moins >
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Collections :
Date de dépôt :
2019-06-17T08:43:29Z
2020-03-17T16:07:28Z
2020-03-17T16:07:28Z