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Defect detection by recursive filters in ...
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Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/ICICS.1997.652171
Title :
Defect detection by recursive filters in packaging industry
Author(s) :
Caron, J. [Auteur]
Laboratoire d'Automatique, Génie Informatique et Signal [LAGIS]
Duvieubourg, Luc [Auteur] refId
Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]
LAGIS-SI
Conference title :
International Conference on Information, Communications and Signal Processing
City :
Singapore
Country :
Singapour
Start date of the conference :
1997-09-12
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Traitement du signal et de l'image [eess.SP]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille (CRIStAL) - UMR 9189
Source :
Harvested from HAL
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