Titre :

Alternator Rotor Inter-turn Short-Circuit Identification using FEM Based Learning

Auteur(s) :

Bacchus, Alexandre [Auteur]
Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Biet, Melisande [Auteur]
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Macaire, Ludovic [Auteur]
Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]
LAGIS-SI
Tounzi, Abdelmounaim [Auteur]
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Menach, Yvonnick Le [Auteur]
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]

Titre de la manifestation scientifique :

SAFEPROCESS 2015 - 9th \{IFAC\} Symposium on Fault Detection, Supervision and Safety for Technical Processes

Ville :

paris

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2015-09-02

Titre de la revue :

IFAC-PapersOnLine

Mot(s)-clé(s) en anglais :

data simulation
diagnostic
Classification
synchronous machine
generator

Discipline(s) HAL :

Informatique [cs]

Résumé en anglais : [en]

The goal of this paper is to identify rotor inter-turn short-circuits of an alternator. The detection method is based on the analysis of a flux probe signal located in the air gap of the machine. Previous works have shown ...
Lire la suite >The goal of this paper is to identify rotor inter-turn short-circuits of an alternator. The detection method is based on the analysis of a flux probe signal located in the air gap of the machine. Previous works have shown that pattern recognition can be applied to detect such a fault by using the experimental data as prototypes. A new method is developed here by considering a learning step based on simulation. Therefore the machine is modeled and validated in that purpose. A feature selection is made by considering feature correlation and disparity. Finally, k nearest neighbors is used to classified experimental test data.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille (CRIStAL) - UMR 9189

Source :

Harvested from HAL