Bayesain reliability models of Weibull ...
Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Bayesain reliability models of Weibull systems: State of the art
Author(s) :
Journal title :
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Pages :
585-600
Publisher :
University of Zielona Góra
Publication date :
2012
ISSN :
1641-876X
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Automatique / Robotique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :