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Intégration de métriques de qualité des ...
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Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Intégration de métriques de qualité des modèles et des langages dans l'outil ModX
Author(s) :
Le Pallec, Xavier [Auteur] refId
Composition de modèles pour l'ingénierie logicielle [COCOA]
Laboratoire d'Informatique Fondamentale de Lille [LIFL]
Dupuy-Chessa, Sophie [Auteur correspondant]
Systèmes d’Information - inGénierie et Modélisation Adaptables [SIGMA]
Scientific editor(s) :
P. Collet, P. Merle
Conference title :
CIEL 2012 - Conf erence en Ing enieriE du Logiciel
City :
Rennes
Country :
France
Start date of the conference :
2012-06-19
Book title :
Actes de la Conf erence en Ing enieriE du Logiciel (CIEL)
Publication date :
2012-06-19
Keyword(s) :
qualité des diagrammes
qualité des langages
métriques
notations
HAL domain(s) :
Informatique [cs]/Interface homme-machine [cs.HC]
French abstract :
Face au développement de nombreux langages spécifiques, leur qualité et celle des diagrammes qui en sont issus prennent une importance significative. Aussi nous nous posons la question de leur évaluation pour éventuellement ...
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Face au développement de nombreux langages spécifiques, leur qualité et celle des diagrammes qui en sont issus prennent une importance significative. Aussi nous nous posons la question de leur évaluation pour éventuellement les améliorer. Nous avons choisi une approche basée sur des métriques comme moyen d' évaluation autant des langages que des diagrammes. Nous souhaitons, en particulier, proposer des métriques portant sur la qualité des notations visuelles, aspect souvent néglige en ingénierie dirigée par les modèles. Cet article présente un premier pas vers de telles métriques en présentant les variables nécessaires a leur calcul ainsi que l'implémentation de l'une d'elles dans un outil de modélisation.Show less >
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Nationale
Popular science :
Non
Comment :
Session Réingénierie: papier court - Publication prochaine des actes (vol. journ. ECEASST - ref. ISSN).
Collections :
  • Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille (CRIStAL) - UMR 9189
Source :
Harvested from HAL
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