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Intégration de métriques de qualité des ...
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Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Intégration de métriques de qualité des modèles et des langages dans l'outil ModX
Auteur(s) :
Le Pallec, Xavier [Auteur] refId
Laboratoire d'Informatique Fondamentale de Lille [LIFL]
Composition de modèles pour l'ingénierie logicielle [COCOA]
Dupuy-Chessa, Sophie [Auteur correspondant]
Systèmes d’Information - inGénierie et Modélisation Adaptables [SIGMA]
Éditeur(s) ou directeur(s) scientifique(s) :
P. Collet, P. Merle
Titre de la manifestation scientifique :
CIEL 2012 - Conf erence en Ing enieriE du Logiciel
Ville :
Rennes
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2012-06-19
Titre de l’ouvrage :
Actes de la Conf erence en Ing enieriE du Logiciel (CIEL)
Date de publication :
2012-06-19
Mot(s)-clé(s) :
qualité des diagrammes
qualité des langages
métriques
notations
Discipline(s) HAL :
Informatique [cs]/Interface homme-machine [cs.HC]
Résumé :
Face au développement de nombreux langages spécifiques, leur qualité et celle des diagrammes qui en sont issus prennent une importance significative. Aussi nous nous posons la question de leur évaluation pour éventuellement ...
Lire la suite >
Face au développement de nombreux langages spécifiques, leur qualité et celle des diagrammes qui en sont issus prennent une importance significative. Aussi nous nous posons la question de leur évaluation pour éventuellement les améliorer. Nous avons choisi une approche basée sur des métriques comme moyen d' évaluation autant des langages que des diagrammes. Nous souhaitons, en particulier, proposer des métriques portant sur la qualité des notations visuelles, aspect souvent néglige en ingénierie dirigée par les modèles. Cet article présente un premier pas vers de telles métriques en présentant les variables nécessaires a leur calcul ainsi que l'implémentation de l'une d'elles dans un outil de modélisation.Lire moins >
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Nationale
Vulgarisation :
Non
Commentaire :
Session Réingénierie: papier court - Publication prochaine des actes (vol. journ. ECEASST - ref. ISSN).
Collections :
  • Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille (CRIStAL) - UMR 9189
Source :
Harvested from HAL
Fichiers
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