Enhanced micro modeling technique for ...

Type de document :
Article dans une revue scientifique
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/30262
Titre :
Enhanced micro modeling technique for semiconductor devices to study faulty mode in power converters
Auteur(s) :
Charfi, F [Auteur]
Messaoud, M.B [Auteur]
Francois, Bruno [Auteur] orcid refId
Al-Haddad, K. [Auteur]
Sellami, F [Auteur]
Titre de la revue :
International Review of Electrical Engineering (IREE)
Numéro :
2
Date de publication :
2007-06
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Collections :
Date de dépôt :
2020-09-11T14:07:03Z