Stochastic Modeling of the Pull-In Voltage ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Permalink :
Title :
Stochastic Modeling of the Pull-In Voltage in a MEMS Beam Structure
Author(s) :
Journal title :
IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation
Abbreviated title :
CEFC
Publication date :
2010-01
Language :
Anglais
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Submission date :
2020-09-11T14:27:10Z