Title :

SiC/GaN Power Semiconductor Devices Inter-electrode Capacitances Characterization Based on Multiple Current Probes

Author(s) :

Li, Ke [Auteur]
Videt, Arnaud [Auteur]
IDIR, Nadir [Auteur]

Journal title :

EPE ECCE Europe

Publication date :

2013-09

Language :

Anglais

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance (L2EP) - ULR 2697

Submission date :

2020-09-11T14:27:16Z