Using Current Surface Probe to Measure the ...
Document type :
Article dans une revue scientifique
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Title :
Using Current Surface Probe to Measure the Current of the Fast Power Semiconductors
Author(s) :
Li, Ke [Auteur]
Videt, Arnaud [Auteur]
Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance (L2EP) - ULR 2697
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Idir, Nadir [Auteur]
Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance (L2EP) - ULR 2697
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Videt, Arnaud [Auteur]

Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance (L2EP) - ULR 2697
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Idir, Nadir [Auteur]

Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance (L2EP) - ULR 2697
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Journal title :
IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
Volume number :
30
Publication date :
2015-06
Language :
Anglais
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Submission date :
2020-09-11T14:27:35Z