[Invited]
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes: Conférence invitée
Titre :
[Invited] Current status and challenges of GaN millimeter-wave transistors
[Invited]
[Invited]
Auteur(s) :
Kabouche, Riad [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pecheux, Romain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zegaoui, Malek [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Medjdoub, Farid [Auteur]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pecheux, Romain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zegaoui, Malek [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Medjdoub, Farid [Auteur]

WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
GaN Marathon 2.0
Ville :
Padova
Pays :
Italie
Date de début de la manifestation scientifique :
2018-04-18
Mot(s)-clé(s) en anglais :
GaN transistors
millimeter-wave
power
efficiency
robustness
millimeter-wave
power
efficiency
robustness
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Résumé en anglais : [en]
In this work, we show that a careful architecture of buffer layers should be employed in order to perform high performance millimeter-wave GaN devices. The use of higher bias operation (VDS ≥ 20 V) will be possible while ...
Lire la suite >In this work, we show that a careful architecture of buffer layers should be employed in order to perform high performance millimeter-wave GaN devices. The use of higher bias operation (VDS ≥ 20 V) will be possible while using short gate length only if the thermal resistance induced by the buffer layers is reduced. In particular, it is shown that a thick AlGaN back barrier (DHFET structure) results in a huge drop of the PAE at VDS = 25V despite the pulsed mode conditions. With an enhanced thermal dissipation as compared to the DHFET, the carbon-doped structure delivers much higher performances illustrated by a state-of-the-art combination of PAE (> 50%) and an output power density of 7 W/mm at 40 GHz and VDS = 25V.Lire moins >
Lire la suite >In this work, we show that a careful architecture of buffer layers should be employed in order to perform high performance millimeter-wave GaN devices. The use of higher bias operation (VDS ≥ 20 V) will be possible while using short gate length only if the thermal resistance induced by the buffer layers is reduced. In particular, it is shown that a thick AlGaN back barrier (DHFET structure) results in a huge drop of the PAE at VDS = 25V despite the pulsed mode conditions. With an enhanced thermal dissipation as compared to the DHFET, the carbon-doped structure delivers much higher performances illustrated by a state-of-the-art combination of PAE (> 50%) and an output power density of 7 W/mm at 40 GHz and VDS = 25V.Lire moins >
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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