RF characterization and small signal ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/EUROSOI-ULIS45800.2019.9041863
Title :
RF characterization and small signal extraction on 22 nm CMOS fully-depleted SOI technology
Author(s) :
Kane, Ousmane []
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laboratoire d'électronique et des technologies de l'Information [Sfax] [LETI]
Lucci, Luca [Auteur]
Scheiblin, Pascal [Auteur]
Lepilliet, Sylvie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, Francois [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS)
City :
Grenoble
Country :
France
Start date of the conference :
2019-04-01
Publisher :
IEEE
Publication date :
2019
English keyword(s) :
FDSOI
CMOS
RF
millimeter waves (mmW)
Small signal circuit
Contacted-Poly-Pitch (CPP)
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
the drastic downscaling of the transistor size along with advances in material sciences allowed the development of low power CMOS technologies with competitive RF figure of merits for millimeter wave applications. In this ...
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Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL